溫度沖擊試驗(yàn)箱用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車(chē)配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的組件，都會(huì)用到，是各領(lǐng)域?qū)Ξa(chǎn)品測(cè)試的必不可少的一項(xiàng)測(cè)試箱，兩箱式箱體分為高溫箱和低溫箱;三箱式箱體分為高溫箱,低溫箱,測(cè)試箱三部分,采獨(dú)特之?dāng)酂峤Y(jié)構(gòu)及蓄熱蓄冷效果，試驗(yàn)時(shí)待測(cè)物完全靜止。
 

 

　　溫度沖擊試驗(yàn)箱的實(shí)驗(yàn)流程分成五部走：預(yù)備處理、原始檢驗(yàn)、實(shí)驗(yàn)、修復(fù)、后檢驗(yàn)。在其中實(shí)驗(yàn)的步驟以下：

 

　　1)實(shí)驗(yàn)試品應(yīng)按規(guī)范規(guī)定置放在試驗(yàn)箱內(nèi)，并將試驗(yàn)箱內(nèi)溫度升到特定點(diǎn)，維持一定的時(shí)間至實(shí)驗(yàn)試品做到溫度平穩(wěn)，以時(shí)間長(zhǎng)都為標(biāo)準(zhǔn)。

 

　　2)高溫環(huán)節(jié)完畢后，在5min內(nèi)將實(shí)驗(yàn)試品變換到已調(diào)整到-55℃的低溫實(shí)驗(yàn)內(nèi)，維持1h或是直到實(shí)驗(yàn)試品做到溫度平穩(wěn)，以時(shí)間長(zhǎng)都為標(biāo)準(zhǔn)。

 

　　3)低溫環(huán)節(jié)完畢后，在5min內(nèi)將實(shí)驗(yàn)試品變換到，已調(diào)整到70℃的高溫試驗(yàn)箱內(nèi)，維持1h或是直到實(shí)驗(yàn)試品做到溫度平穩(wěn)，以時(shí)間長(zhǎng)都為標(biāo)準(zhǔn)。

 

　　4)反復(fù)所述實(shí)驗(yàn)方法,以進(jìn)行三個(gè)循環(huán)系統(tǒng)周期時(shí)間。依據(jù)首樣尺寸與室內(nèi)空間尺寸，時(shí)間將會(huì)會(huì)略微偏差。

 

　　我們需要提醒您在使用時(shí)要注意：高溫燙傷，溫度沖擊試驗(yàn)箱在做高溫試驗(yàn)時(shí)箱內(nèi)溫度很高。試驗(yàn)過(guò)程中或測(cè)試剛結(jié)束時(shí)，如需打開(kāi)箱，開(kāi)門(mén)要特別小心，切記，順著門(mén)開(kāi)啟的方向行走，以免燙傷;低溫凍傷，在做低溫試驗(yàn)時(shí)箱內(nèi)溫度很低。試驗(yàn)過(guò)程中或試驗(yàn)剛結(jié)束時(shí)，如需打開(kāi)箱門(mén)要特別小心，以免凍傷。